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測試探針，是一種應用于電子測試中測試PCBA的一種測試連接電子元件。
測試探針的種類有PCB探針、ICT功能測試探針(汽車線束測試探針、電池針、電流電壓針、開關(guān)針、電容極性針、高頻針)、BGA測試探針等。
測試探針可以根據(jù)產(chǎn)地不同又分為美國QA探針、美國ECT探針、美國IDI探針等，德國INGUN探針，德國PTR探針等，韓國LEENON探針，臺灣CCP中國探針，臺灣UC佑傳探針等。
測試探針的質(zhì)量主要體現(xiàn)在材質(zhì)、鍍層、彈簧、套管的直徑精度及制作工藝上。半導體測試探針分國產(chǎn)、臺灣香港、進口三種，而國內(nèi)的產(chǎn)品其材質(zhì)很多用進口材質(zhì)。
